金相顯微鏡CX40M用于IC芯片 爆破粒子 新材料分析 電子元器件 鍍層涂層  盲孔檢測，帶拍照截圖功能  可輸出報(bào)告。

測量功能：點(diǎn)間距、點(diǎn)線間距、線間距、圓心距、弧、圓、角、矩形、多邊形測量、定標(biāo)功能

輸出報(bào)告：文件管理、拍照命名、拍照路徑設(shè)置、導(dǎo)出數(shù)據(jù)到EXCEL和TXT；提供完整的圖像采集編輯測量報(bào)告輸出功能EXCEL和TXT

高效圖像采集編輯_測量-報(bào)告輸出

從用戶操作體驗(yàn)出發(fā)，提供完整的圖像采集-編輯測量報(bào)告輸出一系列工作流，

優(yōu)化操作流程，大大節(jié)省您的操作時間,

提高您的工作效率!

無論是明場、暗場、偏光成像均能得心應(yīng)手wan美ISP核心色彩還原技術(shù)，能夠有效地改善傳感器對光譜響應(yīng)的色彩偏差,精準(zhǔn)還原顯微視野下的真實(shí)色彩。優(yōu)異的成像性能,

整合最新金相顯微鏡技術(shù)優(yōu)勢，以優(yōu)異的成像性能、舒適的操作體驗(yàn)，為客戶提供高性價比的金相分析及工業(yè)檢測解決方案。拍照錄像，帶測量軟件 ，、多邊形測量、定標(biāo)功能

光學(xué)系統(tǒng)：無限遠(yuǎn)色差校正光學(xué)系統(tǒng)

雙觀察筒：30°傾斜，無限遠(yuǎn)鉸鏈雙目觀察筒，瞳距調(diào)節(jié): 54mm~75mm，單邊視度調(diào)節(jié):士5屈光度

                30°傾斜，無限遠(yuǎn)鉸鏈三通觀察筒，瞳距調(diào)節(jié): 54mm~75mm,單邊視度調(diào)節(jié):士5屈光度，兩檔分光比R:T=100:0或50:50

目鏡：

高眼點(diǎn)大視野平場目鏡PL10X 22mm

高眼點(diǎn)大視野平場目鏡PL10X 22mm (帶測微尺)

高眼點(diǎn)大視野平場目鏡PL10X 22mm (視度可調(diào))

高眼點(diǎn)大視野平場目鏡PL15X 16mm

物鏡：

?

平場無限遠(yuǎn)長工作距消色差金相物鏡(5X、 10X、 20X、 50X、 100X)

無限遠(yuǎn)半復(fù)消帶校正環(huán)物鏡(50X)

物鏡轉(zhuǎn)換器：內(nèi)定位五孔轉(zhuǎn)換器

透反兩用機(jī)架，低手位粗微同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)，粗調(diào)行程28mm,微調(diào)精度0.002mm。帶有防止下滑的調(diào)節(jié)松粗微調(diào)焦機(jī)構(gòu)

緊裝置和隨機(jī)上限位裝置。帶平臺位置上下調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，最大樣品高度28mm

反射機(jī)架，低手位粗微同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu)，粗調(diào)行程28mm,微調(diào)精度0.002mm。帶有防止下滑的調(diào)節(jié)松緊裝

置和隨機(jī)上限位裝置。帶平臺位置上下調(diào)節(jié)機(jī)構(gòu)，最大樣品高度78mm

載物臺

雙層機(jī)械移動平臺，低手位X、Y方向同軸調(diào)節(jié);平臺面積175X 145mm,移動范圍: 76mmX42mm

可配反射用金屬載物臺板，透反兩用玻璃載物臺板

上照明系統(tǒng)

自適應(yīng)寬電壓100V-240V. _AC50/60Hz,反射燈室，單顆大功率5WLED，暖色，柯拉照明，帶視場光闌與孔

徑光闌，中心可調(diào)，帶斜照明裝置

下照明系統(tǒng)

自適應(yīng)寬電壓100V-240V _AC50/60Hz,透射燈室，單顆大功率5WLED，暖色

聚光鏡

透射用搖出式消色差聚光鏡(N.A0.9)， 帶可變孔徑光闌，中心可調(diào)

透射用濾色片:黃色、1F550 濾色片、LBD 濾色片、中性濾色片

攝影攝像附件: 1X、0.67X、 0.5XC 接口，可調(diào)焦; 3.2X攝影目鏡，攝像接筒(帶 PK卡口或MD卡口)數(shù)

其他附件

碼相機(jī)中繼鏡

反射用干涉濾色片:藍(lán)色≤480nm ;綠色520nm~570nm ;紅色630~750nm ; LBD

高精度測微尺，格值0.01mm